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| 书名 | 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 |
| 分类 | |
| 作者 | 中华人民共和国工业和信息化部 发布 |
| 出版社 | 冶金工业出版社 |
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| 介绍 |
编辑推荐 内容推荐 本标准规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定。 目录 《中华人民共和国黑色冶金行业标准硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法YB/T4590-2017》无目录。 |
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