本书第一版出版于2002年。第一次印刷两千册在不到一年的时间里即售罄,第二次印刷后也销售迅速,需要再印。本书出版4年来,评价较好,得过一次二等奖。第二版在内容上补充了当前结构分析的一个重要方面——表面结构分析;在显微结构分析方面,增加了光学显微术、扫描探针显微术等手段;补充了可见紫外光谱这一研究分子的外层电子结构的重要方法,使整本书的内容更加完整。
本书是作为理工科化学类研究生的学位基础课“高等结构分析”的配套教材编写的。本书较深入地介绍了进行化学结构分析的几类主要方法,包括核磁共振、顺磁共振、红外光谱、可见紫外光谱、拉曼光谱、X射线吸收精细结构光谱、X射线单晶衍射、X射线多晶体衍射、有机质谱、显微分析技术和表面分析技术。每种方法都阐述了其基本原理、实验仪器、可测量得到的物理参数及由此获得结构数据的方法,还列举了这些方法的应用实例。除以上基本内容外,尚介绍了方法的一些最新发展及为掌握方法而设计的一些实验。读后可以初步掌握以上各种结构分析方法的基本原理、实验方法、解谱过程并了解如何应用,可满足研究生在研究工作中进行结构分析的基本需要。本书不仅可作为结构分析课程的教材,还可作为进行结构分析的参考书。
第二版除了新增“可见紫外光谱”、“表面结构分析”两章之外,电子显微镜一章扩展成为显微分析技术,增加了光学显微术、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等内容,其余九章也都作了修改补充。