《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》由梁敬魁编著，结合著者多年来从事X射线粉末衍射工作的实践经验和积累编著而成。本书主要阐述X射线粉未衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射法测定新物相的晶体结构的各种方法，特别是根据粉末衍射数据从头算方法，以及里特沃尔德(Rietveld)法全谱拟合修正晶体结构等。为广大从事晶体学和材料科学的科技工作者、教师、研究生和高年级大学生提供参考。

晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》由梁敬魁编著，该书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基本概念、X射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外，还比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德（Rietveld）法全谱拟合修正晶体结构、固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。

《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》可供从事x射线晶体学和材料科学的科技工作者，以及高等院校有关专业的师生参考。

第二版前言

第一版序

第一版前言

第一章 X射线衍射的晶体学基础

第二章 化合物结构的晶体化学基础

第三章 X射线粉末衍射实验技术

第四章 粉末衍射的峰形、位置和强度

第五章 粉末衍射图谱的指标化

第六章 晶体点阵常数的精确测量

第七章 X射线粉末衍射法测定新相的晶体结构

第八章 固溶体与超结构

第九章 晶体结构修正和键价理论