双极工艺器件作为基础电子元器件广泛应用于航天工程。在空间应用时会受到空间辐射损伤,导致性能退化,甚至失效,直接影响航天型号任务高可靠运行。本书总结了作者多年有关双极器件辐射效应方面的研究成果,论述了双极器件电离、位移、电离/位移协同辐射损伤效应的基本特征,器件工艺与结构对双极器件辐射效应影响机制等相关内容。
本书可供从事航天用电子元器件科研与生产的科技人员以及高等院校相关专业师生参考。
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