本书是国外电子信息精品著作。全书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面，尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。本书以FPGA芯片为例，提出了故障模型和可编程芯片结构中故障造成的严重影响，介绍了现今采用的主要容错设计技术。对于国内芯片可测性设计和分析、电路容错设计、FPGA芯片设计等领域来说，是一部很有价值的参考书。

片上系统的研究由来已久，至今仍然保持着很强的生命力，并且越发活跃。该学科涉及面相当广泛，牵涉半导体物理、电路设计理论、仿真软件、算法等各方面，其应用也渗透到电子、通信、控制等方面。

本书内容新颖，实例丰富，全书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面，尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。本书以FPGA芯片为例，提出了故障模型和可编程芯片结构中故障造成的严重影响，介绍了现今采用的主要容错设计技术，并对基于SRAM的F'PGA芯片相关的容错设计实例进行分析和研究。本书对于国内芯片可测性设计和分析、电路容错设计、FPGA芯片设计等领域来说，是一部很有价值的参考书。

该书适应面广，无论对于该学科的专家、教授、研究生，还是本科生、普通技术人员都有极大的参考价值。

1. Design of Systems on a Chip: Introduction

Marcelo Lubaszewski, Ricardo Reis, and Jochen A.G. Jess

2. Microsystems Technology and Applications

J. Malcolm Wilkinson

3. Core Architectures for Digital Media and the Associated

Compilation Techniques

Jochen A.G. Jess

4. Past, Present and Future of Microprocessors

Francois Anceau

5. Physical Design Automation

Ricardo Reis, Jose Luis Guntzel, and Marcelo Johann

6. Behavioral Synthesis: An Overview

Reinaldo A. Bergamaschi

7. Hardware/Software Co-design

A. Jerraya, J.M. Daveau, G. Marchioro, C. Valderrama, M. Romdhani,

T. Ben lsmail, N.E. Zergainoh, F. Hessel, P. Coste, Ph. Le Marrec,

A. Baghdadi, and L. Gauthier

8. Test and Design-for-Test: From Circuits to Integrated Systems

Marcelo Lubaszewski

9. Synthesis of FPGAs and Testable ASICs

 Don W. Bouldin

10. Testable Design and Testing of Microsystems

Hans G. Kerkhoff

11. Embedded Core-based System-on-Chip Test Strategies

 Yervant Zorian

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